電化學(xué)工作站的常見(jiàn)故障說(shuō)明
點(diǎn)擊次數(shù)：657 更新時(shí)間：2025-09-17
電化學(xué)工作站是由波形發(fā)生系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、恒電位-恒電流系統(tǒng)、阻抗分析高頻模塊、用16位單片機(jī)綜合控制，與主計(jì)算機(jī)通過(guò)高速USB接口連接，實(shí)時(shí)顯示實(shí)驗(yàn)時(shí)的電流、電位、時(shí)間的值和它們的圖示關(guān)系，進(jìn)行交流阻抗測(cè)量時(shí)Bode圖直接實(shí)時(shí)顯示。廣泛應(yīng)用于腐蝕電化學(xué)、電化學(xué)機(jī)理等研究與測(cè)試、緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護(hù)效率快速評(píng)價(jià)、氫滲測(cè)試、金屬材料在導(dǎo)電性介質(zhì)（包括水/混凝土等環(huán)境）、膜、導(dǎo)電聚合物、半導(dǎo)體、表面處理、電池和燃料電池、電容器和界面等。
可提供的電化學(xué)方法：
★線(xiàn)性?huà)呙璺病镅h(huán)伏安★慢速線(xiàn)性?huà)呙璺病锫傺h(huán)掃描伏安★單/雙/三電勢(shì)階躍★記時(shí)電流★記時(shí)電量★記時(shí)電勢(shì)★反向記時(shí)電流★反向記時(shí)電量★反向記時(shí)電勢(shì)★開(kāi)路電勢(shì)測(cè)量★電勢(shì)差測(cè)量★恒電流電解★恒電勢(shì)電解★方波伏安★方波循環(huán)伏安★Tafel曲線(xiàn)★常規(guī)脈沖★差分脈沖★差分常規(guī)脈沖★單差分常規(guī)脈沖★雙差分常規(guī)脈沖★交流線(xiàn)性?huà)呙琛锝涣餮h(huán)伏安★選相交流伏安★循環(huán)選相交流伏安★選相二次諧波交流伏安★二次諧波交流伏安★循環(huán)二次諧波交流伏安★循環(huán)選相二次諧波交流伏安★單/雙/三電流階躍★計(jì)時(shí)電勢(shì)★線(xiàn)性電流掃描★循環(huán)電流掃描★以上電化學(xué)方法都可使用溶出分析★恒電勢(shì)全頻阻抗測(cè)量★恒電勢(shì)單頻阻抗測(cè)量★變電勢(shì)單頻阻抗測(cè)量
常見(jiàn)故障：
電流/電位異常：
電極連接問(wèn)題：工作電極、參比電極接觸不良或短路，需重新連接。
靈敏度設(shè)置過(guò)高：數(shù)據(jù)溢出時(shí)需降低靈敏度參數(shù)。
電解液污染：雜質(zhì)可能導(dǎo)致極化異常，需清洗電解槽并更換新鮮電解液。
數(shù)據(jù)采集問(wèn)題：
掃描曲線(xiàn)異常：靈敏度設(shè)置不當(dāng)（過(guò)高導(dǎo)致鋸齒狀曲線(xiàn)，過(guò)低導(dǎo)致數(shù)據(jù)溢出）。
循環(huán)伏安法（CV）不穩(wěn)定：首圈數(shù)據(jù)不可靠，建議至少掃描20圈（40次）以獲取穩(wěn)定曲線(xiàn)。
環(huán)境干擾：
電磁干擾：遠(yuǎn)離大型電機(jī)、變壓器等設(shè)備，確保電源接地良好。
溫度波動(dòng)：溫度敏感體系需控制環(huán)境溫度（如電池測(cè)試）。
硬件故障：
內(nèi)部電阻測(cè)試失敗：若斜率超出990~1010Ω范圍，需聯(lián)系廠(chǎng)家檢測(cè)射頻模塊或主板。
電極系統(tǒng)問(wèn)題：電極表面污染或氧化層未處理，需清潔或更換電極。
